參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

　　中析研究所可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行光晶體管型光耦合器,、雙向光耦合器等各種光耦合器檢測(cè)服務(wù)，亦可根據(jù)客戶(hù)需求設(shè)計(jì)方案,，為客戶(hù)提供非標(biāo)檢測(cè)服務(wù),。檢測(cè)周期：常規(guī)到樣后7-15個(gè)工作日出具光耦合器檢測(cè)報(bào)告

　　檢測(cè)費(fèi)用：樣品初檢后結(jié)合客戶(hù)檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)

　　樣品量大小：具體樣品量需要根據(jù)客戶(hù)的檢測(cè)項(xiàng)目來(lái)決定,，詳情您可以咨詢(xún)工程師

檢測(cè)范圍

　　電阻式光耦合器,、光二極管型光耦合器,、光晶體管型光耦合器、雙向光耦合器等,。

光耦合器檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)列舉

　　GOST 24613.0-1981 光電子集成微型電路和光耦合器 電氣參數(shù)測(cè)量總則

　　GOST 24613.2-1981 光電子集成微型電路和光耦合器 漏電流測(cè)量方法

　　GOST 24613.3-1981 光電子集成微型電路和光耦合器 輸入電壓測(cè)量方法

　　GOST 24613.6-1981 光電子集成微型電路和光耦合器 絕緣電阻測(cè)量方法

　　GOST 24613.7-1983 電阻光耦合器 光輸出電阻和暗輸出電阻測(cè)量方法

　　GOST 24613.8-1983 光電子集成微型電路和光耦合器 絕緣電壓變化臨界速度測(cè)量方法

　　GOST 24613.18-1977 光電子集成微型電路和光耦合器 絕緣電阻測(cè)量方法

　　GOST 24613.19-1977 光電子集成微型電路和光耦合器 電流傳輸系數(shù)測(cè)量方法

　　GOST 24613.9-1983 光電子集成微型電路和光耦合器 時(shí)間參數(shù)測(cè)量方法

中析報(bào)告注意事項(xiàng)

　　· 報(bào)告無(wú)服務(wù)方簽字人簽名無(wú)效(簽名應(yīng)均為同一人);

　　· 未加蓋“北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所”科研測(cè)試專(zhuān)用章無(wú)效;

　　· 報(bào)告復(fù)印,、私自轉(zhuǎn)讓、盜用,、冒用,、涂改、以及其他任何形式篡改均屬無(wú)效;

　　· 委托方需保證樣品來(lái)源信息的真實(shí)性;

　　· 報(bào)告真?zhèn)危嚎蓲叻纻未a查詢(xún),，或可在中析研究所官方網(wǎng)站“報(bào)告查詢(xún)”入口搜索報(bào)告編號(hào)進(jìn)行查詢(xún);

　　· 24小時(shí)保持通訊,，報(bào)告有任何疑問(wèn)，請(qǐng)致電咨詢(xún),。

檢測(cè)準(zhǔn)備

　　1,、與客戶(hù)進(jìn)行積極有效的溝通，了解客戶(hù)樣品的檢測(cè)需求,，確定客戶(hù)所需服務(wù)的基本信息,，并及時(shí)溝通;

　　2、根據(jù)材料樣品,，數(shù)量及檢測(cè)的項(xiàng)目需求,，郵寄樣品到我所;

　　3、結(jié)合樣品的數(shù)量,、周期等信息,，出詳細(xì)的服務(wù)報(bào)價(jià)單。

檢測(cè)實(shí)施

　　1,、內(nèi)容：根據(jù)樣品及客戶(hù)的檢測(cè)需求設(shè)計(jì)方案進(jìn)行檢測(cè);

　　2,、成果：樣品檢測(cè)完成后對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行審核

　　3、整理數(shù)據(jù),，給客戶(hù)郵寄紙質(zhì)報(bào)告/發(fā)送電子報(bào)告,。

　　以上是關(guān)于光耦合器檢測(cè)相關(guān)介紹,周期、方法,、步驟以工程師為準(zhǔn),，如樣品特殊可與工程師交流溝通樣品特性，為您設(shè)計(jì)合理的檢測(cè)分析方案,，節(jié)約您的時(shí)間,。

中析儀器 資質(zhì)